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關(guān)于X射線探傷的優(yōu)缺點(diǎn)及適用范圍

點(diǎn)擊次數(shù):11441 發(fā)布時(shí)間:2017-02-15

X射線探傷優(yōu)點(diǎn):
   X射線實(shí)時(shí)成像直觀、照相底片可以長時(shí)間的保存,對薄壁工件無損探傷靈敏度較高。 對體積狀缺陷敏感,缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測量。對工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求,材料晶粒度對檢測結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測。所以在壓力容器的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。
X射線探傷缺點(diǎn):
   對面狀缺陷不敏感,射線對人體有害,射線源昂貴,防護(hù)成本更高。射線照相法底片評定周期較長,對厚壁工件檢測靈敏度低。

 

工業(yè)X射線探傷常用標(biāo)準(zhǔn)簡介及適用范圍
1、中國鍋爐、壓力容器行業(yè)射線探傷標(biāo)準(zhǔn):
JB/T4730.2—2005 承壓設(shè)備無損檢測第二部分:射線檢測
GB/T3323—2005   鋼溶化焊對接接頭射線照相及焊縫質(zhì)量分級
2、美國標(biāo)準(zhǔn):ASME第五卷A分冊第二章、B分冊第二十二章;
3、國標(biāo):
DG1410---2006     射線檢測(一般性要求)
DG1410.1---2006   鋼對接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.2---2006   小口徑管對接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.3---2006   小口徑管對接接頭射線實(shí)時(shí)成像檢驗(yàn)規(guī)
4、JB/T4730.2—2005 標(biāo)準(zhǔn)將焊縫射線照相的質(zhì)量分為*、AB級、B級三個(gè)級別(級別不同、照相靈敏度、清晰度、
對比度不同)
B 級為,一般應(yīng)用于核容器焊縫檢驗(yàn);
*為低級,可應(yīng)用于一般結(jié)構(gòu)件焊縫檢驗(yàn);
AB為中間級,主要應(yīng)用于鍋爐、壓力容器受壓對接焊縫檢驗(yàn);
5、JB/T4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量分為四個(gè)級別;
1級為,常用于有特別要求設(shè)備之對接焊縫質(zhì)量驗(yàn)收;
2級主要用于鍋爐、壓力容器的重要受壓對接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
3級主要用于重要結(jié)構(gòu)件及鍋爐、壓力容器一般受壓對接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
4極為低級,要求焊縫質(zhì)量4級合格的產(chǎn)品不應(yīng)該再進(jìn)行RT檢驗(yàn)。
等等一些標(biāo)準(zhǔn)

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